X射線分析顯微鏡XGT-7200V
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- X射線分析顯微鏡XGT-7200V
- HORIBA堀場
- XGT-7200V
- 日本
- 電議
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹
概要
研究開発の分析ニーズに威力を発揮
SDD搭載X線分析顕微鏡 遂に登場！
特長
- 高速かつ高精度な元素分析を?qū)g現(xiàn)
- 高分解能?高計數(shù)率
(當(dāng)社従來機種XGT-7000Vとの比較) - 固體、液體、粉體、含水試料など多様なサンプル形狀に対応
- Ø10μmの定性定量分析から□100mmの面分析まで広領(lǐng)域の分析が可能
- 液體窒素不要
仕様
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測定原理 |
エネルギー分散型蛍光X線分析 |
|---|---|
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X線照射徑 |
Ø10μm、50μm、100μm、400μm、1.2mmより仕様選択 |
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測定対象元素 |
Na～U |
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試料室環(huán)境 |
大気?真空 切替可能 |
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試料室サイズ |
450（W）×500（D）×80（H）mm |
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